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            蘇州勒豐精密儀器有限公司
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            點規,點線規,污點卡,對比卡,三星點規,索尼點規,A4點規
            更新時間:2012-02-10   點擊次數:5295次

             

            電子廠品檢用點規線規圖,方便品檢員規范統一標準。各種尺寸大小,污點卡、點規主要用于品管部門判定污點,是用來測量、對比手機外殼、LENSDISPLAY等部件的點、劃痕的面積、直徑、寬度、長度是否超過基準,適用在LCD,PCB,光電,通信行業等.通過外觀等級的,采用點規線規卡客觀的進行定量測定,從而統一全公司產品的外觀判定標準,縮小零部件接收部門和供應商之間的判定誤差,可以正確的向供應商和接收部門傳達所要求的產品的外觀,而不需要制作限度樣品,不需要外觀的等級!
            點規尺寸:各種大小,
            點:從0.13.00
            線:0.02,0.05,0.08,,0.1,0.2,0.3,0.5,0.7,1.0,3.0
            面:0.081.5

            點規的作用
            以確定一個不規則的點或線性刮傷可不可以通過檢驗要求

            點規的組成
            點規的大小通常為A4紙的大小,它是由點區、25%灰界面和刻度線組成

            點規的使用方法
            當遇到一個不規則的點,首先確定它的大致大小在點規上找到差不多相同的點,在確定不規則點的形狀,然后在剛才在點規上找到大小相似點的行中,在找到形狀相似的。然后覆蓋上,若可以蓋住,在看其大小是否允許通過,若可以則通過,否則不可以通過

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